Resultados da pesquisa - Sachdev, Manoj
- A mostrar 1 - 2 resultados de 2
-
A carregar...
Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits Por Sachdev, Manoj
Publicado em 1998Área/Cota: A carregar...
Localização: A carregar...Livro A carregar... -
A carregar...
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Por Sachdev, Manoj, Gyvez, José Pineda
Publicado em 2007Área/Cota: A carregar...
Localização: A carregar...Livro A carregar...