Risultati della ricerca - Sachdev, Manoj

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  1. Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits di Sachdev, Manoj

    Pubblicazione 1998
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  2. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits di Sachdev, Manoj, Gyvez, José Pineda

    Pubblicazione 2007
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