Výsledky vyhľadávania - Sachdev, Manoj
- Zobrazené výsledky 1 - 2 z 2
-
Načíta sa…
Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits Autor Sachdev, Manoj
Vydavateľské údaje 1998Signatúra: Načíta sa…
Umiestnenie: Načíta sa…Kniha Načíta sa… -
Načíta sa…
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Autor Sachdev, Manoj, Gyvez, José Pineda
Vydavateľské údaje 2007Signatúra: Načíta sa…
Umiestnenie: Načíta sa…Kniha Načíta sa…