Výsledky vyhľadávania - Sachdev, Manoj

  • Zobrazené výsledky 1 - 2 z 2
Upresniť hľadanie

  1. Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits Autor Sachdev, Manoj

    Vydavateľské údaje 1998
    Kniha
    Pridať do obľúbených
    Uložené v:

  2. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits Autor Sachdev, Manoj, Gyvez, José Pineda

    Vydavateľské údaje 2007
    Kniha
    Pridať do obľúbených
    Uložené v:

Vyhľadávacie nástroje: