Kanäle - Microelectronic devices and circuits / :: Spolocny katalog EUBA/STU

Ähnliche Einträge: Microelectronic devices and circuits /

Thema: Mikroelektronika

Vorschau
Vyšetrovanie vlastností prvkov integrovanej fotoniky
Vorschau
Plošné spoje pro mikroelektroniku /
Vorschau
Fyzikálno-metalurgické aspekty bezolovnatých spájok v mikroelektronike
Vorschau
Návrh a analýza moderných výkonových elektronických prvkov podporená modelovaním a simuláciou : dát. obhaj. 27.8.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Syntéza uhlíkových nanorúrok a ich využitie pre senzorické aplikácie : dát. obhaj. 21.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Metódy zvyšovania kvality parametrických testov pre analógové integrované obvody : dát. obhaj. 27.8.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Zložené vrstvy na báze TiO2 a NiO na detekciu vodíka : dát. obhaj. 20.6.2013, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Application of IDDT Test in SRAM Arrays Towards Detection of Weak Opens : dát. obhaj. 24.6.2014, č. ved. odb. 26-13-9
Vorschau
Diagnostika šumových vlastností tranzistorov GaN HEMT : dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Fotonické prvky pre optické komunikačné systémy : dát. obhaj. 27.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Aplikácia metódy Monte Carlo v rastrovacej elektrónovej mikroskopii GaN štruktúr : dát. obhaj. 20.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
Vorschau
Vybrané problémy technológie a charakterizácie optoelektronických prvkov na báze heteroštruktúr A3B5 a organických polovodičov : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 19.07.2005
Vorschau
Návrh prvkov integrovanej fotoniky
Vorschau
Zobrazovacie technológie ako súčasť elektronického vzdelávania
Vorschau
Analýza porúch v organických polovodičových štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
Vorschau
Parametre porúch v polovodičových štruktúrach
Vorschau
Návrh spínaného zdroja napätia s GaN tranzistorom
Vorschau
Návrh systému snímania pohybu ruky pre účely rozpoznávania posunkovej reči
Vorschau
Diamantové a diamantu podobné vrstvy pre elektrochemické aplikácie
Vorschau
Meranie a testovanie vybraných parametrov DAB modulov
Vorschau
Príprava a charakterizácia tenkovrstvových štruktúr na báze a-Si:H/c-Si pre využitie v solárnych článkoch
Vorschau
Analýza porúch v polovodičových štruktúrach a prvkoch na báze GaN
Vorschau
MEMS gas sensors based on SAW-HEMT structures

Thema: elektronické obvody

Verfasser: Fonstad, Clifton G

Vorschau
Microelectronic devices and circuits /