Registos relacionados: Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES :
- Hĺbkové profilovanie pomocou AES - interpretácia hĺbkových profilov s využitím simulácií pomocou programu T-dyn
- Charekterictika tenkých AIN a Sic vrstiev : Dipl.práca /
- Vlastnosti amorfných tenkých vrstiev SiC a ich využitie vo fotovoltike : dát. obhaj. 25.4.2013, č. ved. odb. 5-2-12
- Detekcia a spracovanie signálu z SiC fotodetektorov : Dipl.práca /
- Charakterizácia GaN bufferových vrstiev rastených na SiC pomocou MOCVD pri rôznych tlakoch
- Registrácia ionizujúceho žiarenia SiC detektorom
Autor: Kosiba, Rastislav
Autor: Liday, Jozef, 1945-
- Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 28.02.1996 /
- Augerova elektrónová spektroskopia tenkovrstvových štruktúr : Kand.diz.práca : Obh. 12.06.1985 : Projekt III-4-3/4 /
- Príspevky ku kvantitatívnej augerovej elektrónovej spektroskopii : Habil.práca : Obh. 27.10.1992 /
- Faktorová analýza v AES : Dipl.práca /
- Integrácia ovládača pre zber údajov do programu Origin : Diplomová práca /
- Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES : Dipl.práca /