Documenti analoghi: Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
- Skúmanie nízkorozmerových štruktúr spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Analýza povrchov vzoriek použitím sondovej hrotovej mikroskopie
- Identifikácia porúch v Schottkyho štruktúrach na báze SiC spektroskopiou hlbokých hladín
- Skúmanie elektrofyzikálnych vlastností polovodičových prvkov spektroskopiou hlbokých hladín
- Fyzika tuhých látok /
Soggetto: elektronika
- Součástky pro elektroniku
- Organické materiály pre elektroniku, optoelektroniku a senzoriku aplikácia moderných spektroelektrochemických techník a metód počítačovej chémie
- Optický kódový multiplex : V.odb. 26-13-9, Obh. 19.5.2003
- Komunikačný systém pre optický prenos dát vo voľnom priestore : Dipl.práca
- Česko-ruský elektrotechnický a elektronický slovník
- Mechatronics : A Foundation Course
Autore: Slovák, Peter
- Kovanie ojníc pre moped Korádo : Diplomová práca
- Formal verification of selected properties of process models obtained through process mining from event logs
- Modelovanie procesov v zdravotníctve
- Modelovanie jednosmerného motora v prostredí Matlab Simscape
- Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
- Evaluation of automotive component development processes in the selected company
Autore: Vincze, Andrej, 1975-
- Epitaxný rast GaAs a LT GaAs vrstiev z molekulárnych zväzkov a charakterizácia ich vlastností : Č.ved.odb. 26-13-9. Obh. 06.06.2006
- Príprava a vlastnosti pásikových laserov : Diplomová práca
- Polovodičové nízkodimenzionálne heteroštruktúry a ich aplikácia v polovodičových laseroch
- Analýza zvyškovej atmosféry v rastovej komore MBE
- Analýza povrchov tuhých látok fotoemisnou elektrónovou spektroskopiou (XPS, UPS)
- Analýza vplyvu tepelného spracovania Si MOS štruktúr s veľkou permitivitou oxidu