-
Meranie uniformity buniek fotovoltických panelov
-
Meranie optických vlastností fotodetektorov
-
Analýza štruktúry materiálov pomocou mikro-Ramamanovského mikroskopu
-
Optické spektroskopické metódy analýzy polovodičových štruktúr a prvkov
-
Analysis of selected properties of semiconductor laser : Dát. ohaj. 25.08.2009, č. ved. odb. 26-13-9
-
Automatizácia pracoviska pre meranie charakteristických parametrov LED
-
ADEPT 2013 : 1st International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies. Nový Smokovec, High Tatras, Slovakia, June 2-5, 2013
-
Polovodičové nízkodimenzionálne heteroštruktúry a ich aplikácia v polovodičových laseroch
-
Analýza vybraných vlastností polovodičových laserov
-
Charakterizácia vlastností optoelektronických prvkov so zabudovaným mikrorezonátorom
-
Charakterizácia vlastností polovodičov a organických látok metódou merania priepustnosti vo viditeľnej oblasti spektra
-
Charakterizácia dynamických vlastností polovodičových detektorov
-
Analýza povrchov vzoriek použitím sondovej hrotovej mikroskopie
-
Analýza vlastností polovodičových laserov
-
ADEPT 2014 : 2nd International Conference on Advances in Electronic and Photonic Technologies; Tatranská Lomnica, Slovakia; June 1-4, 2014
-
ADEPT 2016 : 4th International conference on advances in electronic and photonic technologies. Tatranská Lomnica, Slovakia. June 20-23, 2016 /
-
ADEPT 2015 : 3rd international conference on advances in electronic and photonic technologies. Štrbské Pleso, High Tatras, Slovakia. June 1-4, 2015 /