Documenti analoghi: Microscopy Conference 2003 :
- Microscopy Conference 2003 : Proceedings. Microscopy and Microanalysis, Vol. 9, Supplement 3, 2003
- Electron microscopy and analysis /
- Field-Ion Microscopy
- Noncontact Atomic Force Microscopy /
- Transmission Electron Microscopy : Physics of Image Formation
- Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Soggetto: mikroskopia
- Zmena štruktúry supravodiča po aplikácii ťahového napätia
- Verifikácia distribúcie sklených vlákien vo vstrekovanom diely prostredníctvom simulačného softwaru Moldex 3D a mikroskopie
- Štruktúra a fázové zloženie zliatin na báze Zn pre žiarové pokovenie
- Únavové porušenie kľukového hriadeľa : Bakalárska práca
- Identifikácia novodobých písacích látok s využitím optickej a fluorescenčnej mikroskopie I.
- Identifikácia novodobých písacích látok s využitím optickej a fluorescenčnej mikroskopie II.