Documenti analoghi: Charakterizácia polovodičových štruktúr :
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov metódou DLTS
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr a prvkov
- Epitaxný rast GaAs a LT GaAs vrstiev z molekulárnych zväzkov a charakterizácia ich vlastností : Č.ved.odb. 26-13-9. Obh. 06.06.2006
- Príprava GaAs/InGaP kvantových drôtov MOVPE rastom na tvarovaných podložkách : V. odb. 26-13-9. Obh. 01.03.2001
- Elektrofyzikálne vlastnosti kremíkových štruktúr ožiarených rýchlymi neutrónmi pri vysokých fluenciách : Kand.diz.práca : V.odb. 26-11-9 : Obh. 18.12.1995 /
Soggetto: elektronika
- Součástky pro elektroniku
- Organické materiály pre elektroniku, optoelektroniku a senzoriku aplikácia moderných spektroelektrochemických techník a metód počítačovej chémie
- Optický kódový multiplex : V.odb. 26-13-9, Obh. 19.5.2003
- Komunikačný systém pre optický prenos dát vo voľnom priestore : Dipl.práca
- Česko-ruský elektrotechnický a elektronický slovník
- Mechatronics : A Foundation Course
Soggetto: Mikroelektronika
- Vyšetrovanie vlastností prvkov integrovanej fotoniky
- Plošné spoje pro mikroelektroniku /
- Fyzikálno-metalurgické aspekty bezolovnatých spájok v mikroelektronike
- Návrh a analýza moderných výkonových elektronických prvkov podporená modelovaním a simuláciou : dát. obhaj. 27.8.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Vlastnosti elektroluminiscenčných diód pre spintronické aplikácie : dát. obhaj. 7.11.2013, č. ved. odb. 5-2-13
- Syntéza uhlíkových nanorúrok a ich využitie pre senzorické aplikácie : dát. obhaj. 21.3.2014, č. ved. odb. 5-2-13
Autore: Gurnik, Peter
- Charakterizácia polovodičových štruktúr : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 03.09.2003
- Výskum delta-dotovaných štruktúr na báze GaAs
- Výskum heterogénnych štruktúr na báze GaAs
- Výskum delta-dotovaných štruktúr na báze GaAs
- Programové vybavenie pre analýzu polovodičových štruktúr
- Vývoj zariadenia pre automatizované meranie analógových integrovaných obvodov
Autore: Harmatha, Ladislav, 1948-
- Vplyv mikroštruktúry kapacitora na báze TiO2 dielektrika s vysokou dielektrickou konštantou na jeho elektrické vlastnosti
- Príprava a charakterizácia tenkovrstvových štruktúr na báze a-Si:H/c-Si pre využitie v solárnych článkoch
- Štúdium a charakterizácia vybraných vlastností solárnych článkov s heteropriechodom
- Diagnostika kremíkových heteroštruktúr pre moderné fotovoltické aplikácie : dát. obhaj. 25.8.2014, č. ved. odb. 5-2-13
- Meranie a simulácia kremíkových heteroštruktúr pre pokročilé solárne aplikácie : dát. obhaj. 15.3.2012, č. ved. odb. 5-2-13
- Elektrická charakterizácia Schottkyho štruktúr s heteropriechodom AlGaN/GaN : dát. obhaj. 11.4.2013, č. ved. odb. 5-2-13