Documents similaires: Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier :
- Spektroskopiské analýzy materiálov a štruktúr pre elektroniku : Obhaj.15.3.2005
- Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy /
- Elektrónová štruktúra niektorých sklotvorných zliatin typu tranzitívny kov - polokov : Kand.diz.práca : V.odb. 11-20-9 : Obh. 02.02.1984 : Projekt I-1-3 /
- Elektronnaja i ionnaja spektroskopija tverdych tel
- Surface and Interface Analysis : ECASIA 91 : Konf. Proceedings of the European Coference on Aplications of Surface and Interface Analysis, Budapest, Hungary, 14.- 18. Oct. 1991
- Dynamical properties of solids. Volume 5
Sujet: Augerov efekt
Sujet: Augerové spektrá
Auteur: Tomek, Stanislav
Auteur: Liday, Jozef, 1945-
- Príspevok k metódam merania, spracovania a vyhodnotenia Augerových spektier : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 28.02.1996 /
- Augerova elektrónová spektroskopia tenkovrstvových štruktúr : Kand.diz.práca : Obh. 12.06.1985 : Projekt III-4-3/4 /
- Príspevky ku kvantitatívnej augerovej elektrónovej spektroskopii : Habil.práca : Obh. 27.10.1992 /
- Faktorová analýza v AES : Dipl.práca /
- Integrácia ovládača pre zber údajov do programu Origin : Diplomová práca /
- Hĺbkové profilovanie tenkých SiC vrstiev pomocou AES : Dipl.práca /