Birkholz, M. (2006). Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley-Vch.
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Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Weinheim: Wiley-Vch, 2006.
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Citatione MLA (9a ed.)
Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley-Vch, 2006.
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