Birkholz, M. (2006). Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley-Vch.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Weinheim: Wiley-Vch, 2006.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Birkholz, Mario. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley-Vch, 2006.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..