Citáce podľa APA (7th ed.)
Wang, L., Wu, C., & Wen, X. (2006). VLSI Test Principles and Architectures. Elsevier Inc..
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Wang, Laung-Terng, Cheng-Wen Wu, a Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures. San Francisco: Elsevier Inc., 2006.
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Wang, Laung-Terng, et al. VLSI Test Principles and Architectures. Elsevier Inc., 2006.
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..