Cita APA (7a ed.)
Wang, L., Wu, C., & Wen, X. (2006). VLSI Test Principles and Architectures. Elsevier Inc..
Cita Chicago Style (17a ed.)
Wang, Laung-Terng, Cheng-Wen Wu, y Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures. San Francisco: Elsevier Inc., 2006.
Cita MLA (9a ed.)
Wang, Laung-Terng, et al. VLSI Test Principles and Architectures. Elsevier Inc., 2006.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.