Style de citation APA (7e éd.)
Beyerer, J., Hagmanns, R., & Stadler, D. (2024). Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles (2. vydanie.). Walter de Gruyter.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Beyerer, Jürgen, Raphael Hagmanns, et Daniel Stadler. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. 2. vydanie. Berlin: Walter de Gruyter, 2024.
Style de citation MLA (9e éd.)
Beyerer, Jürgen, et al. Pattern Recognition: Introduction, Features, Classifiers and Principles. 2. vydanie. Walter de Gruyter, 2024.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.