Citação norma APA
Gusev, E. (2006). Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer Verlag.
Citação norma Chicago
Gusev, Evgeni. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Dordrecht: Springer Verlag, 2006.
Citação norma MLA
Gusev, Evgeni. Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices. Springer Verlag, 2006.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.