Marcus, R. B., & Sheng, T. T. (1983). Transmission electron microscopy of silicon VLSI circuits and structures. John Wiley.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Marcus, Robert B., a Tan Tsu Sheng. Transmission Electron Microscopy of Silicon VLSI Circuits and Structures. New York: John Wiley, 1983.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Marcus, Robert B., a Tan Tsu Sheng. Transmission Electron Microscopy of Silicon VLSI Circuits and Structures. John Wiley, 1983.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..