APA-Zitierstil (7. Ausg.)
Bowen, D., & Tanner, B. K. (2006). X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring. CRC Press.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Bowen, D.Keitn, und Brian K. Tanner. X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring. Boca Raton: CRC Press, 2006.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Bowen, D.Keitn, und Brian K. Tanner. X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring. CRC Press, 2006.
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