Citazione Stile APA (7a Edizione)
Bowen, D., & Tanner, B. K. (2006). X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring. CRC Press.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Bowen, D.Keitn, e Brian K. Tanner. X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring. Boca Raton: CRC Press, 2006.
Citatione MLA (9a ed.)
Bowen, D.Keitn, e Brian K. Tanner. X-Ray Metrology in Semiconductor Manufactoring. CRC Press, 2006.
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.