APA-Zitierstil (7. Ausg.)
Sachdev, M., & Gyvez, J. P. (2007). Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (2.ed.). Springer Verlag.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Sachdev, Manoj, und José Pineda Gyvez. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits. 2.ed. Dordrecht: Springer Verlag, 2007.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Sachdev, Manoj, und José Pineda Gyvez. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits. 2.ed. Springer Verlag, 2007.
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