Sachdev, M., & Gyvez, J. P. (2007). Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (2.ed.). Springer Verlag.
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Style de citation Chicago (17e éd.)
Sachdev, Manoj, et José Pineda Gyvez. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits. 2.ed. Dordrecht: Springer Verlag, 2007.
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Style de citation MLA (9e éd.)
Sachdev, Manoj, et José Pineda Gyvez. Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits. 2.ed. Springer Verlag, 2007.
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Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.