Ježek, V., & Krajčušková, Z. (2008). Modely rastu spoľahlivosti zložitých elektronických zariadení. STU v Bratislave FEI.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Ježek, Vladimír, y Zuzana Krajčušková. Modely Rastu Spoľahlivosti Zložitých Elektronických Zariadení. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2008.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Ježek, Vladimír, y Zuzana Krajčušková. Modely Rastu Spoľahlivosti Zložitých Elektronických Zariadení. STU v Bratislave FEI, 2008.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.