Fajta, M., Ťapajna, M., & Harmatha, L. (2008). Meranie teplotných závislostí rezistivity tenkých vrstiev Ru-SiO pre pokročilú CMOS technológiu. STU v Bratislave FEI.
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Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Fajta, Michal, Milan Ťapajna, e Ladislav Harmatha. Meranie Teplotných Závislostí Rezistivity Tenkých Vrstiev Ru-SiO Pre Pokročilú CMOS Technológiu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2008.
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Citatione MLA (9a ed.)
Fajta, Michal, et al. Meranie Teplotných Závislostí Rezistivity Tenkých Vrstiev Ru-SiO Pre Pokročilú CMOS Technológiu. STU v Bratislave FEI, 2008.
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