Fajta, M., Ťapajna, M., & Harmatha, L. (2008). Meranie teplotných závislostí rezistivity tenkých vrstiev Ru-SiO pre pokročilú CMOS technológiu. STU v Bratislave FEI.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Citação norma Chicago
Fajta, Michal, Milan Ťapajna, and Ladislav Harmatha. Meranie Teplotných Závislostí Rezistivity Tenkých Vrstiev Ru-SiO Pre Pokročilú CMOS Technológiu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2008.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Citação norma MLA
Fajta, Michal, et al. Meranie Teplotných Závislostí Rezistivity Tenkých Vrstiev Ru-SiO Pre Pokročilú CMOS Technológiu. STU v Bratislave FEI, 2008.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.