Fajta, M., Ťapajna, M., & Harmatha, L. (2008). Meranie teplotných závislostí rezistivity tenkých vrstiev Ru-SiO pre pokročilú CMOS technológiu. STU v Bratislave FEI.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Chicago Style (17th ed.) Citation
Fajta, Michal, Milan Ťapajna, and Ladislav Harmatha. Meranie Teplotných Závislostí Rezistivity Tenkých Vrstiev Ru-SiO Pre Pokročilú CMOS Technológiu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2008.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
MLA (9th ed.) Citation
Fajta, Michal, et al. Meranie Teplotných Závislostí Rezistivity Tenkých Vrstiev Ru-SiO Pre Pokročilú CMOS Technológiu. STU v Bratislave FEI, 2008.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Warning: These citations may not always be 100% accurate.