Blaho, M., & Kováč, J. (2011). Elektrická charakterizácia MOS-HFET tranzistorov pripravených na základe GaN. STU v Bratislave FEI.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Blaho, Michal, y Jaroslav Kováč. Elektrická Charakterizácia MOS-HFET Tranzistorov Pripravených Na Základe GaN. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2011.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Blaho, Michal, y Jaroslav Kováč. Elektrická Charakterizácia MOS-HFET Tranzistorov Pripravených Na Základe GaN. STU v Bratislave FEI, 2011.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.