Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..