Schroder, D. K. (1998). Semiconductor material and device characterization (7.ed.). John Wiley & Sons.
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Style de citation Chicago (17e éd.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 7.ed. New York: John Wiley & Sons, 1998.
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Style de citation MLA (9e éd.)
Schroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 7.ed. John Wiley & Sons, 1998.
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Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.