Runyan, W., & Shaffner, T. (1997). Semiconductor Measurements and Instrumentation. McGraw-Hill.
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Style de citation Chicago (17e éd.)
Runyan, W.R, et T.J Shaffner. Semiconductor Measurements and Instrumentation. New York: McGraw-Hill, 1997.
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Style de citation MLA (9e éd.)
Runyan, W.R, et T.J Shaffner. Semiconductor Measurements and Instrumentation. McGraw-Hill, 1997.
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Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.