Gašparovič, M., Kováč, J., McPhail, D. S., & Chater, R. (2003). Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr: Diplomová práca. STU v Bratislave FEI.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Citação norma Chicago
Gašparovič, Marek, Jaroslav Kováč, David S. McPhail, and Richard Chater. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2003.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Citação norma MLA
Gašparovič, Marek, et al. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. STU v Bratislave FEI, 2003.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.