Gašparovič, M., Kováč, J., McPhail, D. S., & Chater, R. (2003). Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr: Diplomová práca. STU v Bratislave FEI.
Copia nella clipboard completata con successo
Copia nella clipboard fallita
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Gašparovič, Marek, Jaroslav Kováč, David S. McPhail, e Richard Chater. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2003.
Copia nella clipboard completata con successo
Copia nella clipboard fallita
Citatione MLA (9a ed.)
Gašparovič, Marek, et al. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. STU v Bratislave FEI, 2003.
Copia nella clipboard completata con successo
Copia nella clipboard fallita
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.