Gašparovič, M., Kováč, J., McPhail, D. S., & Chater, R. (2003). Semiconductor materials and structures characterization by methods of SIMS and optical analysis = Využitie metód optickej a materiálovej analýzy pre charakterizáciu polovovičov a polovodičových štruktúr: Diplomová práca. STU v Bratislave FEI.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Chicago Style (17th ed.) Citation
Gašparovič, Marek, Jaroslav Kováč, David S. McPhail, and Richard Chater. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2003.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
MLA (9th ed.) Citation
Gašparovič, Marek, et al. Semiconductor Materials and Structures Characterization by Methods of SIMS and Optical Analysis = Využitie Metód Optickej a Materiálovej Analýzy Pre Charakterizáciu Polovovičov a Polovodičových štruktúr: Diplomová Práca. STU v Bratislave FEI, 2003.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Warning: These citations may not always be 100% accurate.