Williams, T. (1986). VLSI testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier.
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Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Amsterdam: Elsevier, 1986.
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Citatione MLA (9a ed.)
Williams, T.W. VLSI Testing. Advances in CAD for VLSI. Vol. 5. Elsevier, 1986.
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