Style de citation APA (7e éd.)
Benninghoven, A. (1979). Secondary ion Mass Spestrometry. SIMS 2: Proceedings of the 2 international conference. Stanford, USA. 27.- 31. Aug. 1979. Springer Verlag.
Style de citation Chicago (17e éd.)
Benninghoven, A. Secondary Ion Mass Spestrometry. SIMS 2: Proceedings of the 2 International Conference. Stanford, USA. 27.- 31. Aug. 1979. Berlin: Springer Verlag, 1979.
Style de citation MLA (9e éd.)
Benninghoven, A. Secondary Ion Mass Spestrometry. SIMS 2: Proceedings of the 2 International Conference. Stanford, USA. 27.- 31. Aug. 1979. Springer Verlag, 1979.
Attention : ces citations peuvent ne pas être correctes à 100%.