APA-Zitierstil (7. Ausg.)
Sachdev, M. (1998). Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Dordrecht: Kluwer Academic Publishers, 1998.
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Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers, 1998.
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