Sachdev, M. (1998). Defect Oriented testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Dordrecht: Kluwer Academic Publishers, 1998.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Sachdev, Manoj. Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits. Kluwer Academic Publishers, 1998.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..