Cita APA (7a ed.)
Bujna, T., & Hudec, J. (2018). Funkčné SBST testovanie systémov na čipe s použitím genetických algoritmov.
Cita Chicago Style (17a ed.)
Bujna, Tomáš, y Ján Hudec. Funkčné SBST Testovanie Systémov Na čipe S Použitím Genetických Algoritmov. 2018.
Cita MLA (9a ed.)
Bujna, Tomáš, y Ján Hudec. Funkčné SBST Testovanie Systémov Na čipe S Použitím Genetických Algoritmov. 2018.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.