Forgáč, M., & Marek, J. (2021). Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu. STU v Bratislave FEI.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Citação norma Chicago
Forgáč, Martin, and Juraj Marek. Testovanie Výkonových SiC MOSFET Tranzistorov V Podmienkach Skratu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2021.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Citação norma MLA
Forgáč, Martin, and Juraj Marek. Testovanie Výkonových SiC MOSFET Tranzistorov V Podmienkach Skratu. STU v Bratislave FEI, 2021.
Successfully copied to clipboard
Copying to clipboard failed
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.