Špánik, P. J., & Marek, J. (2021). Meranie výkonových GaN tranzistorov v podmienkach skratu. STU v Bratislave FEI.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Špánik, Patrik Ján, y Juraj Marek. Meranie Výkonových GaN Tranzistorov V Podmienkach Skratu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2021.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Špánik, Patrik Ján, y Juraj Marek. Meranie Výkonových GaN Tranzistorov V Podmienkach Skratu. STU v Bratislave FEI, 2021.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.