Risultati della ricerca - Roy, Scott

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  1. A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability di Craig, Alexander

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  2. Statistical Simulation of Random Dopant Induced Threshold Voltage Fluctuations for 35 nm Channel Length MOSFET di Kováč, Urban

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  3. <The> compact modelling strategy on SNM and read current variability in modern SRAM di Asenov, P.

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  4. Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability di Asenov, Asen

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  5. Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors di Asenov, Asen

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