Risultati della ricerca - Roy, Scott
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A unified density gradient approach to ‘ab-initio’ ionised impurity scattering in 3D MC simulations of nano-CMOS variability di Craig, Alexander
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Statistical Simulation of Random Dopant Induced Threshold Voltage Fluctuations for 35 nm Channel Length MOSFET di Kováč, Urban
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<The> compact modelling strategy on SNM and read current variability in modern SRAM di Asenov, P.
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Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability di Asenov, Asen
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Simulation of Statistical Variability in Nano-CMOS Transistors Using Drift-diffusion, Monte Carlo and Non-equilibrium Green's Function Techniques di Asenov, Asen
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Advanced simulation of statistical variability and reliability in nano CMOS transistors di Asenov, Asen
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