Documenti analoghi: Moderné výkonové tranzistory v podmienkach UIS testu a skratu /
- Výkonové tranzistory MOSFET
- Křemíkové vysokofrekvenční výkonové tranzistory /
- Křemíkové vysokofrekvenční výkonové tranzistory /
- Výkonové tranzistory v nízkofrekvenčních obvodech
- Systém pre paralelné meranie opakovaného UIS testu
- Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
Autore: Marek, Juraj, 1983-
- Analýza elektrofyzikálných vlastností a energetickej odolnosti moderných výkonových tranzistorov : Dát. obhaj. 17.2.2011, č. ved. odb. 5-2-13
- Moderné výkonové tranzistory v podmienkach UIS testu a skratu /
- Riadiace a komunikačné systémy v moderných automobiloch
- Návrh modelu a simulácia elektrických vlastností výkonového MOS tranzistora s laterálne vyvedenými kontaktmi.
- Návrh modelu a simulácia elektrických vlastností výkonového MOS tranzistora s "DeepTrench" technológiou
- Modelovanie a simulácia elektrických vlastností a energetickej odolnosti Trench MOS tranzistora