Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Špánik, Patrik Ján (Author)
Outros Autores: Marek, Juraj (Thesis advisor)
Formato: Manuscrito Livro
Idioma:eslovaco
Publicado em: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Assuntos:
Acesso em linha:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha
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