Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu

Salvato in:
Autore principale: Špánik, Patrik Ján (Autore)
Altri autori: Marek, Juraj (Relatore della tesi)
Natura: Manoscritto Libro
Lingua:slovacco
Pubblicazione: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Soggetti:
SiC
SiC MOSFET
Skrat
UIS test
Tranzistor
Polovodič
Short circuit
Transistor
Semiconductor
Accesso online:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

MARC

LEADER 00000ntm a22000003a 4500
001 stuzp90645
003 SK-STU
005 20241125141921.9
007 ta
008 150427s2015----xo-----f-mn---000-0-slo-d
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a slo 
044 |a xo 
100 1 |a Špánik, Patrik Ján  |u 033000  |4 aut  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 98244  |U E030  |Y 549  |7 98244 
242 0 1 |a Reliability testing of power transistors under short circuit and UIS test  |y eng 
245 1 0 |a Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu 
260 |a Bratislava :  |b STU v Bratislave FEI,  |c 2023 
300 |a 80 s. 
650 4 |a SiC  |2 slo 
650 4 |a SiC MOSFET  |2 slo 
650 4 |a Skrat  |2 slo 
650 4 |a UIS test  |2 slo 
650 4 |a Tranzistor  |2 slo 
650 4 |a Polovodič  |2 slo 
650 4 |a SiC MOSFET  |2 eng 
650 4 |a SiC  |2 eng 
650 4 |a Short circuit  |2 eng 
650 4 |a UIS test  |2 eng 
650 4 |a Transistor  |2 eng 
650 4 |a Semiconductor  |2 eng 
700 1 |a Marek, Juraj  |u 033000  |k Z1  |4 ths  |U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky  |T FEI Ústav elektroniky a fotoniky  |X 24483  |U E030  |Y 549  |7 A000024483 
856 4 |u https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha 

Documenti analoghi