Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Špánik, Patrik Ján (Auteur)
Autres auteurs: Marek, Juraj (Directeur de thèse)
Format: Manuscrit Livre
Langue:slovaque
Publié: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2023
Sujets:
Accès en ligne:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha
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