Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
- Modelovanie a simulácia SiC MOSFET tranzistora v podmienkach UIS testu
- Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
- Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
- Návrh a realizácia obvodu pre testovanie SC odolnosti výkonových tranzistorov
- Simulation of Electrical Properties and Reliability of SiC Power Module
- Zmáčavosť a interakcia špeciálnych zliatin s využitím ohrevu elektrónového lúča