Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
Saved in:
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Manuscript Book |
| Language: | Slovak |
| Published: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2023
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioFormChildU76H7&sid=EC7951772ACC837B5F7CC9A56A1E&seo=CRZP-detail-kniha |
| Tags: |
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items: Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu
- Modelovanie a simulácia SiC MOSFET tranzistora v podmienkach UIS testu
- Testovanie výkonových SiC MOSFET tranzistorov v podmienkach skratu
- Meranie a charakterizácia energetickej odolnosti moderných výkonových elektronických prvkov zaťažených UIS a SC testom : dátum obhajoby 25.8.2023
- Návrh a realizácia obvodu pre testovanie SC odolnosti výkonových tranzistorov
- Simulation of Electrical Properties and Reliability of SiC Power Module
- Zmáčavosť a interakcia špeciálnych zliatin s využitím ohrevu elektrónového lúča