Špánik, P. J., & Marek, J. (2023). Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu. STU v Bratislave FEI.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Špánik, Patrik Ján, a Juraj Marek. Skúmanie Odolnosti Výkonových Tranzistorov V podmienkach SC A UIS Testu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2023.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Špánik, Patrik Ján, a Juraj Marek. Skúmanie Odolnosti Výkonových Tranzistorov V podmienkach SC A UIS Testu. STU v Bratislave FEI, 2023.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..