Špánik, P. J., & Marek, J. (2023). Skúmanie odolnosti výkonových tranzistorov v podmienkach SC a UIS testu. STU v Bratislave FEI.
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Style de citation Chicago (17e éd.)
Špánik, Patrik Ján, et Juraj Marek. Skúmanie Odolnosti Výkonových Tranzistorov V podmienkach SC A UIS Testu. Bratislava: STU v Bratislave FEI, 2023.
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Style de citation MLA (9e éd.)
Špánik, Patrik Ján, et Juraj Marek. Skúmanie Odolnosti Výkonových Tranzistorov V podmienkach SC A UIS Testu. STU v Bratislave FEI, 2023.
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