Analýza porúch v polovodičových štruktúrach na báze SiC

Saved in:

Bibliographic Details
Main Author:	Činčurak, Darko (Author)
Other Authors:	Kósa, Arpád (Thesis advisor)
Format:	Manuscript Book
Language:	Slovak
Published:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2022
Subjects:	Arrhéniova závislosť DLTS DLTFS SiC GaN MOSFET hlboké energetické hladiny, Deep Level Transient spectroscopy defects
Online Access:	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=4F55101800366CEF54FDC3DB109A&seo=CRZP-detail-kniha
Tags:	Add Tag No Tags, Be the first to tag this record!

View in STU Opac

Internet