Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov

Na minha lista:

Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Vu Viet, Hoang (Author)
Outros Autores:	Benko, Peter (Thesis advisor)
Formato:	Manuscrito Livro
Idioma:	eslovaco
Publicado em:	Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Assuntos:	výkonový tranzistor UIS test energetická odolnosť automatizované testovanie MOSFET UIS ruggedness test automated testing system power transistor
Acesso em linha:	https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
Tags:	Adicionar Tag Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

View in STU Opac

Internet