Návrh prostriedkov pre automatizované testovanie energetickej odolnosti výkonových tranzistorov

Guardado en:
Autor principal: Vu Viet, Hoang (Autor)
Otros Autores: Benko, Peter (Orientador)
Formato: Manuscrito Libro
Lenguaje:eslovaco
Publicado: Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2020
Materias:
výkonový tranzistor
UIS test
energetická odolnosť
automatizované testovanie
MOSFET
UIS
ruggedness test
automated testing system
power transistor
Acceso en línea:https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=AFB64E0160B4F4E92046D59F9648&seo=CRZP-detail-kniha
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