Modeling and simulation of transistor and circuit variability and reliability

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Asenov, Asen
Weitere Verfasser: Cheng, Binjie, Dideban, D., Kováč, Urban, Moezi, N., Millar, Campbell, Roy, Gareth, Brown, Adrew R., Roy, Scott
Format: Buchkapitel
Sprache:Englisch
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MARC

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