Industrial Tomography : Systems and Applications /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Amsterdam
Elsevier
2015
|
| Colección: | Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
71 |
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|