On-chip power supply current monitoring of CMOS VLSI circuits = Testovanie CMOS VLSI obvodov monitorovaním prúdu z napájacieho zdroja priamo na čípe : Dizertačná práca : Obh. 22.05.1997 /
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
1996
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: On-chip power supply current monitoring of CMOS VLSI circuits = Testovanie CMOS VLSI obvodov monitorovaním prúdu z napájacieho zdroja priamo na čípe :
- Testovanie CMOS IO monitorovaním dynamického napájacieho prúdu : Dipl.práca /
- Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
- Analog VLSI design nMOS and CMOS /
- Alternatívne metódy testovania integrovaných obvodov a systémov na čipe : Obh. 09.09.2003
- Algorithmic and knowledge based CAD for VLSI /
- Porovnanie parametrov BiCMOS aCMOS obvodov = Parameter comparison of BiCMOS and CMOS circuits : Dipl.práca