Štruktúrna charakterizácia nanokompozitných tenkých vrstiev : Č. ved. odb. Dát. obhaj.
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
Elektrotechnický ústav SAV,
2005
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Štruktúrna charakterizácia nanokompozitných tenkých vrstiev :
- Tenkovrstvové mikroelektródy pre elektrochemické impedančné biosenzory : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 23.4.2008
- Tenkovrstvové mikroštruktúry pre aplikácie v elektrotechnických senzoroch : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 19.07.2005
- Tenkovrstvové mikroelektródy pre elektrochemické vodivostné senzory aplikované v biomedicínskom monitorovaní stresu : Č. ved. odb. 26-13-9. Dát. obhaj. 19.07.2005
- Optimalizácia senzorických vlastností naprašovaných tenkých vrstiev : Obhaj. 7.4.2005, čís.ved.odb. 26-13-9
- Characterization of rubrene thin films by optical techniques = Charakterizácia tenkých vrstiev optickými metódami : Čís.ved.odb. 26-13-9, Dát. obhaj. 09-07-2009
- Optimalizácia dávkovania kvapalného prekurzora pre prípravu tenkých vrstiev metódou MOCVD