Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 10.3.2006
Enregistré dans:
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Autres auteurs: | |
| Format: | Manuscrit Livre |
| Langue: | slovaque |
| Publié: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2005
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires: Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov :
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr nerovnovážnymi kapacitnými metódami : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 /
- Nové dielektrické materiály pre perspektívne unipolárne technológie
- Defects in High-k Gate Dielectric Stacks : Nano-Electronic Semiconductor Devices
- Polovodičové součástky typu MIS /
- Simulácia, meranie a vyhodnocovanie koncentračných profilov prímesí v polovodičových štruktúrach : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 /
- Analýza kinetiky procesov v polovodičových štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín : Kand.diz.práca : Obh. 24.09.1996 /