Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2004
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Elektrická charakterizácia vlastností štruktur MOS s veľmi tenkým oxidom
- Charakterizácia štruktúr MIS s oxidom ytria
- Charakterizácia štruktúr MIS s veľmi tenkými izolačnými vrstvami
- Elektrická charakterizácia polovodičových štruktúr a prvkov
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
- Štúdium vlastností rozhrania izolant-polovodič štruktúr MOS