Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností výkonových tranzistorov
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | , |
| Format: | Manuskript Buch |
| Sprache: | Slowakisch |
| Veröffentlicht: |
Bratislava :
STU v Bratislave FEI,
2005
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!
|
Ähnliche Einträge: Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností výkonových tranzistorov
- Meranie a vyhodnocovanie vybraných elektrofyzikálných vlastností výkonových trench MOS tranzistorov
- Vyhodnotenie elektrických vlastností a energetickej odolnosti vybraných DMOS tranzistorov podporené modelovaním a simuláciou
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr GaN
- Meranie a vyhodnotenie elektrických vlastností Schottkyho štruktúr PtSi-Si
- Analýza elektrofyzikálných vlastností a energetickej odolnosti moderných výkonových tranzistorov : Dát. obhaj. 17.2.2011, č. ved. odb. 5-2-13
- Meranie 1/f šumu tranzistorov : Dipl.práca