Generátor testov pre poruchy oneskorení pre štrukturované sekvenčné obvody
Uložené v:
| Hlavný autor: | |
|---|---|
| Ďalší autori: | |
| Médium: | Rukopis Kniha |
| Jazyk: | Slovak |
| Vydavateľské údaje: |
Bratislava :
STU v Bratislave FIIT,
2004
|
| Predmet: | |
| Tagy: |
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Podobné jednotky: Generátor testov pre poruchy oneskorení pre štrukturované sekvenčné obvody
- Generovanie testov pre asynchrónne sekvenčné digitálne obvody
- Generovanie testov pre poruchy oneskorení z úrovne medziregistrových prenosov : Diplomová práca /
- Automatický generátor testov pre sekvenčné obvody s využitím ATPG ATALANTA
- Automatický generátor testov funkčných textov pre digitálne systémy
- Verifikácia testov pre VLSI obvody a AFTG = Verifikation of tests for VLSI circuit with AFTG : Dipl.práca
- Oneskorený rozsudok