Snyder, R. L., Fiala, J., & Bunge, H. J. (1999). Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podle Chicago (17th ed.)
Snyder, Robert L., Jaroslav Fiala, a Hans Joachim Bunge. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford: Oxford University Press, 1999.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Citácia podľa MLA (8th ed.)
Snyder, Robert L., et al. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press, 1999.
Kopírovanie bolo úspešné
Kopírovanie sa nepodarilo
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..