Snyder, R. L., Fiala, J., & Bunge, H. J. (1999). Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita Chicago Style (17a ed.)
Snyder, Robert L., Jaroslav Fiala, y Hans Joachim Bunge. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford: Oxford University Press, 1999.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Cita MLA (9a ed.)
Snyder, Robert L., et al. Defect and Microstructure Analysis by Diffraction. Oxford University Press, 1999.
Copiado correctamente al portapapeles
Error al copiar al portapapeles
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.