Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

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Auteurs principaux: Snyder, Robert L. (Auteur), Fiala, Jaroslav (Auteur), Bunge, Hans Joachim (Auteur)
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: Oxford : Oxford University Press, 1999
Collection:IUCr Monographs on Crystallography 10
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