Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Snyder, Robert L. (Verfasst von), Fiala, Jaroslav (Verfasst von), Bunge, Hans Joachim (Verfasst von)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Oxford : Oxford University Press, 1999
Schriftenreihe:IUCr Monographs on Crystallography 10
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam a22000003a 4500
001 stu143474
005 20150617225951.2
008 070724s1999----uk------------------eng-d
020 |a 0-19-850189-7 
040 |a STU  |b slo 
041 0 |a eng 
044 |a uk 
080 |a 52-656 
100 1 |a Snyder, Robert L.  |4 aut 
245 1 |a Defect and Microstructure Analysis by Diffraction 
260 |a Oxford :  |b Oxford University Press,  |c 1999 
300 |a 785 s 
650 7 |a difrakcia  |2 stusub 
700 1 |a Fiala, Jaroslav  |4 aut 
700 1 |a Bunge, Hans Joachim  |4 aut 
830 0 |a IUCr Monographs on Crystallography  |v 10 
996 |b 284M076628  |c M*12153-1  |l MMKN  |s A  |a 24  |w stu143474_0001