Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Snyder, Robert L. (Autor), Fiala, Jaroslav (Autor), Bunge, Hans Joachim (Autor)
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: Oxford : Oxford University Press, 1999
Colección:IUCr Monographs on Crystallography 10
Materias:
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MARC

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