Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Snyder, Robert L. (Autore), Fiala, Jaroslav (Autore), Bunge, Hans Joachim (Autore)
Natura: Libro
Lingua:inglese
Pubblicazione: Oxford : Oxford University Press, 1999
Serie:IUCr Monographs on Crystallography 10
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Descrizione
Descrizione fisica:785 s
ISBN:0-19-850189-7